# ニーズ拡大
![生成AIの流行、半導体検査装置に好影響の背景](/img/article/20240630/668107fadc06d.jpg)
2024.06.30
生成AIの流行、半導体検査装置に好影響の背景
生成人工知能(AI)の流行が、半導体検査装置各社に好影響を及ぼしている。生成AIにはDRAMを複数積層する広帯域メモリー(HBM)が使われるが、従来のDRAMに比べ複雑なためテスト負荷が高く、検査装置の重要性が高まっている。今後も市場拡大が見込まれており、各社は巨大需要獲得を目指し、狙いを定め